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掃描電子顯微鏡通過束來掃描樣品的表面并生成高分辨率的圖像。因為該圖像具有很高的價值，所以一定要嚴格按照要求進行操作。為了確保能夠得到清晰、準確的顯微圖像，在使用要合理處理樣品。

優勢：

1、高分辨率與寬放大倍數：

分辨率：常規SEM 1-10納米，場發射SEM 0.4-2納米。

放大倍數：10倍至1,000,000倍連續可調，覆蓋宏觀到納米尺度。

2、大景深與立體成像：景深比光學顯微鏡高數百倍，適合粗糙表面三維成像。

3、多功能分析：結合EDS、EBSD等附件，可同步分析形貌、成分、晶體結構。

4、非破壞性觀察：無需超薄切片，可直接觀察大塊樣品。

對樣品的要求有：

1、不會被電子束分解

2、在電子束掃描下熱穩定性要好

3、能提供導電和導熱通道

4、大小與厚度要適于樣品臺的安裝

5、觀察面應該清潔，無污染物

6、進行微區成分分析的表面應平整

7、磁性試樣要預先去磁，以免觀察時電子束受到磁場的影響

使用過程中應避免樣品污染電子槍或探測器，操作時佩戴手套。遵守實驗室安全規程，避免長時間暴露于X射線。先降燈絲電流和高壓，再關閉真空系統，然后斷電。

掃描電子顯微鏡具有高分辨率、廣泛的應用領域和不斷發展的趨勢。它在材料科學、生命科學和納米技術等領域發揮著重要作用，為科學研究和工業應用提供了強大的工具。